35kV介质损耗测试仪的功能特点：
1、变频抗干扰
采用变频抗干扰技术，在200%干扰下仍能准确测量，测试数据稳定，适合在现场做抗干扰介损试验。
2、高精度测量
采用数字波形分析和电桥自校准等技术，配合高精度三端标准电容器，实现高精度介损测量。
仪器所有量程输入电阻低于2Ω，消除了测量电缆附加电容的影响。
3、多级安全保护，确保人身和设备安全
高压保护：试品短路、击穿或高压电流波动，能以短路方式高速切断输出。
低压保护：误接380V、电源波动或突然断电，启动保护，不会引起过电压。
接地保护：仪器接地不良使外壳带危险电压时，启动接地保护。
C V T：高压电压和电流、低压电压和电流四个保护限，不会损坏设备；误选菜单不会输出激磁电压。CVT测量时无10kV高压输出。
35kV介质损耗测试仪的技术参数
1 | 使用条件 | -5℃∽40℃ | RH<80% | ||
2 | 抗干扰原理 | 变频法 | |||
3 | 电 源 | AC 220V±10% | 频率无限制 | ||
4 | 高压输出 | 0.5KV∽10KV | 每隔0.1kV | ||
精 度 | 2% | ||||
大电流 | 200mA | ||||
容 量 | 1500VA | ||||
5 | 自激电源 | AC 0V∽50V/15A | 45HZ/55HZ | ||
6 | 分 辨 率 | tgδ: 0.001% | Cx: 0.1pF | ||
7 | 精 度 | △tgδ:±(读数*1.0%+0.040%) | |||
△C x :±(读数*1.0%+1.0PF) | |||||
8 | 测量范围 | tgδ | 无限制 | ||
C x | 15pF < Cx < 200nF | ||||
10KV | Cx < 60 nF | ||||
5KV | Cx < 100 nF | ||||
1KV | Cx < 200 nF | ||||
CVT测试 | Cx < 200 nF | ||||
9 | CVT变比范围 | 10∽10000 | |||
CVT变比精度 | 0.1% | ||||
CVT变比分辨率 | 0.1 | ||||
10 | 外型尺寸 | 430（L）×330（W）×330（H） | |||
11 | 存储器大小 | 80 组 支持U盘数据存储 | |||
12 | 重 量 | 28 Kg | |||
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